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X射線熒光光譜儀的產品應用特點介紹
更新時間:2024-05-28
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X射線熒光光譜儀是一種利用X射線照射物質后產生熒光現(xiàn)象的儀器,可以用于元素分析和表面化學分析。其工作原理如下:X射線照射待檢樣品表面,激發(fā)原子內部電子躍遷,產生特定波長的熒光輻射,熒光輻射被探測器檢測并轉化成電信號,再經過信號處理裝置分析、處理和記錄,通過熒光輝譜儀分析熒光發(fā)射的波長和強度,可以確定樣品中的元素種類和含量。X射線熒光光譜儀具有高靈敏度、高準確度和非破壞性的特點,廣泛應用于材料科學、地質學、金屬分析等領域。
X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品,產生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。
XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品,樣品中的元素之內層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候,會放射出特征X光;不同的元素會放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波長特性。檢測器(Detector)接受這些X光,儀器軟件系統(tǒng)將其轉為對應的信號。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在研究金屬,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化學研究、法醫(yī)學、電子產品進料品管(EURoHS)和考古學等領域,在某種程度上與原子吸收光譜儀互補,減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入。
X射線熒光光譜儀的產品特點:
作界面簡單,測量方便,快捷
無損檢測,在無標準樣品時亦可準確分析
采用139±5eV的高精度分辨率,保證數(shù)據(jù)測量的精度
能夠檢測鹵族元素的準確含量
同置高清晰攝像頭,可幫助客戶判斷測量的部位
電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序,散熱更好,并能有效的延長X光管的壽命
外觀高貴大方,加大儀器內部空間,儀器內部通風性優(yōu),并有效屏蔽電磁干擾
采用雙峰位快速自動校準。
自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成的定量分析算法,包含F(xiàn)P法、檢量線法、經驗系數(shù)法、理論系數(shù)法、神經網絡算法等,客戶可根據(jù)自已的要求進行二次開發(fā),自行開發(fā)任意多個分析方法,設置了自動安全防護開關,以確保用戶安全使用。
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